特点：

• 可与双晶和单晶探头兼容。 
• 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。 
• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。 
• 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。 
• 内部氧化层/沉积物软件选项。 
• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。 
• 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。 
• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。 
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。 
• 厚度、声速和渡越时间测量。 
• 差分模式和缩减率模式。 
• 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。 
• 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。 
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。 
• 设计符合EN15317标准。

标准配置

38DL PLUS数字式超声测厚仪，交流电源或电池供电，50 Hz～60 Hz。 
标准双晶探头套装盒 
• 充电器/AC适配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC） 
• 内置数据记录器 
• GageView接口程序 
• 试块和耦合剂 
• USB线缆 
• 橡胶保护套，带有支架和颈挂带 
• 用户手册 
• 两年有限担保 
测量功能：穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、 小值/ 大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/ 小值模