- 产品参数
- 图文介绍
- 企业简介
- 企业地址
CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途
该试块主要用于测定探伤仪、探头及的组合性能
两个试块的主要区别在于:CSK-IB试块在原有CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。
使用要点:
1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围;
2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围;
3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点;
4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力;
5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力;
6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力;
7)利用中50曲面和巾1.5横孔测定斜探头的K值;
8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1:1扫描速度,配合R100作零位校正;
9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。
CSK-IA超声波探伤标准试块
CSK-1B试块校准斜探头的步骤
1.输入材料声速:3230m/s 2. 探头前沿校准 (1)如图1所示,将探头放在CSK-1B标准试块的0位上
2.前后探头,使试块R100圆弧面的回波幅度*高,回波幅度不要超出屏幕,否则需要减小增益。
3.当回波幅度达到*高时,保持探头不动,在与试块“0”刻度对应的探头侧面作好标记,这点就是波束的入射点,从探头刻度尺上直接读出试块“0”刻度所对应的刻度值,即为探头的前沿值。(或用刻度尺测量图1所示L值,前沿x=100-L。), 将探头前沿值输入“探头”功能内的“探头前沿”中,探头前沿测定完毕。
-
德国wiggens WB3000-C 分体式高速搅拌器¥5.25万
-
日本Mitutoyo(三丰) HR-527洛氏硬度计¥5.15万
-
德国EPK WETTEST湿膜测厚仪¥1.48万
-
美国LI-COR LI-820 CO2分析仪¥5.45万
-
美国FLIR E85红外热像仪¥9.58万
-
英国Elcometer 157涂层测厚仪
¥6350.00
-
加拿大Qubit Systems Z955 手持式测含氮量仪
¥1.85万
-
英国Sherwood M420双通道低温火焰光度计
¥4.35万
-
德国Funke Gerber LactoFlash牛奶(乳品)成份分析仪
¥2.85万
-
美国Globalwater FP111/FP211/FP311 便携式直读流速仪 明渠流速仪
¥1.85万
- 产品参数
- 图文介绍
- 企业简介
- 企业地址