美国RAYTEK(雷泰) GS150LE温度成像及分析系统专门适用于低发射率镀膜玻璃生产和加工过程的温度成像及分析系统。

美国RAYTEK(雷泰) GS150LE温度成像及分析系统产品简介：
•专为低发射率的玻璃生产和加工所设计，如低发射率镀膜玻璃生产过程中的温度和质量监控。
•减少和避免因故障引起的窑炉紧急停机的次数。
•快速发现窑炉内热平衡的非正常运行情况，发现潜在故障。
•的自动发射率修正功能，适用于当生产线上的玻璃类型变更或玻璃已覆膜后，原发射率已变化的情况，使测量始终保持准。
•产量和成品率、产品一致性。
•GS150LE专门适用于低发射率镀膜玻璃生产和加工过程的温度成像及分析系统
•GS150LE温度成像及分析系统基于 GS150 系统之上开发，专为低发射率镀膜玻璃的产品质量和产品一致性所设计
•GS150LE温度成像及分析系统特别增加了发射率自动修正功能
•当生产线上玻璃的发射率发生变化时，GS150LE系统可以自动调整到实际的发射率参数，以确保生产过程中的温度精测量
•GS150LE帮助用户通过快速检测玻璃表面温度的变化，可以发现产品缺陷和瑕疵，帮助用户产品质量，降低废品率

美国RAYTEK(雷泰) GS150LE温度成像及分析系统产品特点：
•可视的热图像和剖面曲线、区域图和剖面热图
•通过外部触发或软件控制可以“截取”热图像和曲线图
•各扇区的温度图像和曲线的自动分析（很小值/很大值/平均值等）
•高低温报警功能
•当测温过程被启动时，用户可在远程实时进行参数调节，以确保精的过程控制
•可将当前曲线与参考曲线进行比较以保证产品一致性
•提供OPC同其他程序接口，提供模拟或数字量输出 

美国RAYTEK(雷泰) GS150LE温度成像及分析系统技术参数：