美国NEW WAVE MicroMill微区取样仪是一款微取样系统，专为化学和同位素分析而设计的高分辨铣来重新获得样品粉末。

美国NEW WAVE MicroMill微区取样仪产品简介：

MicroMill是一款微取样系统，专为化学和同位素分析而设计的高分辨铣来重新获得样品粉末。亚微米级分辨率和位置精度，实时视频观察和专有软件的结合，能允许在骨骼和结晶材料中，对复杂的生长结构进行取样。

美国NEW WAVE MicroMill微区取样仪产品特点：

亚微米级样品移动控制高精度钻粉通过针尖顶部探测器，可以测试样品高度探测和取样时倾斜校正样品地图导航功能，大大增加了样品区域视野50mm计算机驱动样品在X，Y和Z坐标轴上移动二次采样路径插入数据/图像文件重新组合，包括保存，撤消和输出新轮廓线跟踪功能

研究成盐糖酸盐中的生长区域：

MicroMill 的分段取样能力提供了高分辨率元素的各向同性化学反应和晶体结构的内部区

美国NEW WAVE MicroMill微区取样仪硬件技术参数：

高分辨率立体显微镜，具有 6.7 至 40 倍的光学变焦和偏光特性

彩色 CCD 摄像头，具有 24.5mm 至 3.3mma=的视野于样品的成像和数字化

两个独立的 CCD 彩色摄像头，具有 3 倍数字放大磨钻头的进程内视野

带亚微米级分辨率沿着 X，Y 和 Z 平台自动行进 50mm

开放式平台架构能容纳更大样品

可选软件和透射光

连续可调的 360 度十字交叉偏振光

低离心率，大扭矩直流可调钻取速度(1200-35000rpm)

高空间分辨率的高精度碳化钨材质钻头

操纵杆移动控制适用于手动控制样品位置硬件技术参数

MicroMill 软件(Windows®基础)，带指向和点击功能。

电脑显示器直接动态显示样品图像

数字化屏幕显示和曲线插补二次采样路径

准确深度控制整个样品区域

Z轴倾斜校正和轮廓跟踪功能

离线数字化文件能由软件转换的图像坐标进行直接阅读

数据记录文件，包含样品路径信息和预计样品体积

保存，调用和图像输出(BMP, TIF, JPG 和 TGA 文件