电阻率测试仪两探针测试仪（测锗锭) 型号:KDY-2

库号：M389279 

两探针电阻率测试仪是按照我国标准及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量模截面尺寸是可测量的，而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒，例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，因此两探针法的测量精度一般优于四探针法。特别是对多晶材料的测量，由于多晶晶粒间界处，杂质局部偏析可能导致电阻率较大变化，这种影响对四探针法更为严重，故不推荐用四探针法测量多晶材料的电阻率。

本仪器除适合测量体形有规则的单晶棒外，也适合测量多晶棒。两探针法测量水平区熔多晶锗电阻率，在我国已有四十多年的实践经验，对区熔锗锭横截面面积的变化已总结出一套计算方法，本仪器采用李贺成教授提出的计算公式编写程序，可用微机HQ-710C处理区熔锗锭的测量数据，或采用KDY测量系统软件测量数据，并根据北京有色金属研究总院余怀之教授的提议，扩大了微处理机的数据处理范围。

本仪器主要由电气测量部份（简称：主机）、测试台及两探针头组成。仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，地保护被测材料。仪器配置了本公司的产品：“小游移探针头”，间距为10mm的两探针头探针游移率在0.02～0.05%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机需配用HQ-710C数据处理器或KDY测量系统软件，置入的数据后，处理器会配合探头在锗锭上移动测量，自动计算、打印出各点的电阻率、电阻率的大值、电阻率小值，给测量带来很大方便。

主机技术参数

（1）测量范围：

可测电阻率：锗晶体0.1-100Ω·cm

可测锗锭尺寸：大长度700mm；大高度50mm；大宽度60mm。

（2）恒流源：

输出电流：DC 0.004-100mA 五档连续可调

量程：0.004-0.01mA

0.04-0.10mA

0.4-1.0mA

4.0-10mA

40-100mA

恒流精度：各档均优于±0.05%

（3）直流数字电压表：

测量范围：0-199.99mV

灵敏度：10μA

基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）

输入阻抗：≥1000MΩ

（4）电阻测量误差：≤0.3%

（5）两探针头：KDT-5

探针间距：10.00±0.02mm

游移率：0.02-0.05%

探针压力：4±1N/单针

（6）供电电源：

AC 220V ±10% 50/60Hz 功率：12W

（7）使用环境：

温度：23±2℃ 相对温度：≤65%

无较强的电场干扰，无强光直接照射。

（8）重量、体积：

主机重量：7.5Kg

体积：390×340×190（单位：mm 长度×宽度×高度）